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數(shù)字式四探針測(cè)試儀|SZT-1|

產(chǎn)品型號(hào)： SZT-1 -

所屬分類：測(cè)試儀

產(chǎn)品時(shí)間：2025-07-29

簡(jiǎn)要描述：數(shù)字式四探針測(cè)試儀|SZT-1|是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量裝置。它可以測(cè)量片狀、快狀半導(dǎo)體材料徑向和軸向電阻率，測(cè)量片狀半導(dǎo)體材料的電阻率和擴(kuò)散層的薄層電阻（方塊電阻），換上特制的四探針測(cè)試夾，還可以對(duì)金屬導(dǎo)體的低中值電阻進(jìn)行測(cè)量。此外，探針經(jīng)過特殊加工后，還可以測(cè)量薄膜材料電阻率。

詳情介紹

數(shù)字式四探針測(cè)試儀|SZT-1|

是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量裝置。它可以測(cè)量片狀、快狀半導(dǎo)體材料徑向和軸向電阻率，測(cè)量片狀半導(dǎo)體材料的電阻率和擴(kuò)散層的薄層電阻（方塊電阻），換上特制的四探針測(cè)試夾，還可以對(duì)金屬導(dǎo)體的低中值電阻進(jìn)行測(cè)量。此外，探針經(jīng)過特殊加工后，還可以測(cè)量薄膜材料電阻率。廣泛適用于半導(dǎo)體材料、器件廠、高等院?；瘜W(xué)物理系、科研單位，對(duì)半導(dǎo)體材料的電阻性能測(cè)試。
本儀器測(cè)試探頭采用寶石導(dǎo)向軸套和高耐磨碳化鎢探針，定位準(zhǔn)確，游移率小，使用壽命長(zhǎng)。

數(shù)字式四探針測(cè)試儀|SZT-1|
技術(shù)參數(shù)：
1．測(cè)量范圍：
電阻率：10的-4次方~10的3 次方Ω-cm
電阻：10的-6次方 ~10的5 次方Ω
方塊電阻：10的-3次方 ~10的4 次方Ω/□
導(dǎo)電類型鑒別：電阻率范圍 10的-4 次方~10 的3次方Ω—cm
2．可測(cè)半導(dǎo)體材料尺寸
直徑：φ15~100 mm
長(zhǎng)度：≤400mm
3．測(cè)量方法：
軸向、斷面均可
4．顯示方式：31/2,數(shù)顯,極性、過載自動(dòng)顯示，小數(shù)點(diǎn)、單位自動(dòng)顯示。
5．恒流源：
（1）電流輸出：直流電流0~100 mA連續(xù)可調(diào)。
（2）量程：10、100μA、1、10、100mA
（3）誤差：±0.5%讀數(shù)±2個(gè)字
6.四探針測(cè)試探頭
（1）探針間距:1mm
（2）材料:碳化鎢.探針機(jī)械游移率:±1.0%

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